Materialkarakterisering
Materialkarakterisering gir verdifull informasjon om strukturen i diverse materialer, helt ned på mikronivå.
Ved hjelp av mikroskopi (både optisk og elektronmikroskoper) kan man undersøke evt. feil i et materiale, kartlegge og kvantifisere partikler og faser og undersøke strukturer. Resultatene fra materialkarakteriserings-undersøkelser kan brukes til å fastslå årsaker til defekter og problemer i et materiale.
Kombinasjonen materialkarakterisering og kjemisk analyse er en kraftfull pakke for å undersøke både fysiske og kjemiske egenskaper i en lang rekke materialer
Bruksområder:
- Generell beskrivelse av mikro- og makrostruktur
- Kvalitets- og produktkontroll
- Reklamasjoner
- Kornstørrelsesmålinger og partikkeltelling
- Kvantitativ og kvalitativ bestemmelse av faser
- Brudd- og defektanalyser
- Asbestundersøkelser
- Kvantitative målinger vha bildeanalyse
- Egen Photovoltaic lab (PV-Lab) for solcelle silisium:
- Elektrisk motstand
- Levetid
- PN-overgang
- Bestemmelse av Oi og Cs vha FTIR
- LBIC
Tilgjengelig utstyr:
- FG-SEM med EDX. Zeiss Merlin Compact med EDX detektor
- Optiske mikroskoper
- IR-mikroskop
- Makrofoto
- Prøvepreparering (kutting, sliping, polering, innstøping etc.)
- LIBS - Laser Induced Sprectroscopy
Se vår nyhet!
LIBS - LASER INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY
LIBS er et instrument som analyserer overflaten på et materiale i bevegelse. LIBS kan analysere de fleste grunnstoffer og gir opptil 100 spektre per sekund. Med et LIBS-instrument trenger du ikke vente på prøveresultater fra laben, her kan du få sanntidsanalyser og trender på materialstrømmer.
Les mer om de spennende mulighetene rundt LIBS HER
