Materialkarakterisering

Materialkarakterisering gir verdifull informasjon om strukturen i diverse materialer, helt ned på mikronivå.

Ved hjelp av mikroskopi (både optisk og elektronmikroskoper) kan man undersøke evt. feil i et materiale, kartlegge og kvantifisere partikler og faser og undersøke strukturer. Resultatene fra materialkarakteriserings-undersøkelser kan brukes til å fastslå årsaker til defekter og problemer i et materiale.

Kombinasjonen materialkarakterisering og kjemisk analyse er en kraftfull pakke for å undersøke både fysiske og kjemiske egenskaper i en lang rekke materialer

Bruksområder:

  • Generell beskrivelse av mikro- og makrostruktur
  • Kvalitets- og produktkontroll
  • Reklamasjoner
  • Kornstørrelsesmålinger og partikkeltelling
  • Kvantitativ og kvalitativ bestemmelse av faser
  • Brudd- og defektanalyser
  • Asbestundersøkelser
  • Kvantitative målinger vha bildeanalyse
  • Egen Photovoltaic lab (PV-Lab) for solcelle silisium:
    • Elektrisk motstand
    • Levetid
    • PN-overgang
    • Bestemmelse av Oi og Cs vha FTIR
    • LBIC

 

Tilgjengelig utstyr:

  • FG-SEM med EDX. Zeiss Merlin Compact med EDX detektor
  • Optiske mikroskoper
  • IR-mikroskop
  • Makrofoto
  • Prøvepreparering (kutting, sliping, polering, innstøping etc.)

Prosjekteksempel:

Material analysis with SEM

HØST is using an Elkem Microsilica® based product (silica fume) in fertilizers, and they needed to prove that the fertilizer actually is absorbed by the plant.