Materialkarakterisering

Ved hjelp av mikroskopi (både optisk og elektronmikroskoper) kan man undersøke evt. feil i et materiale, kartlegge og kvantifisere partikler og faser og undersøke strukturer. Resultatene fra materialkarakteriserings-undersøkelser kan brukes til å fastslå årsaker til defekter og problemer i et materiale.

Kombinasjonen materialkarakterisering og kjemisk analyse er en kraftfull pakke for å undersøke både fysiske og kjemiske egenskaper i en lang rekke materialer

Bruksområder:

• Generell beskrivelse av mikro- og makrostruktur
• Kvalitets- og produktkontroll
• Reklamasjoner
• Kornstørrelsesmålinger og partikkeltelling
• Kvantitativ og kvalitativ bestemmelse av faser
• Brudd- og defektanalyser
• Asbestundersøkelser
• Kvantitative målinger vha bildeanalyse
• Egen Photovoltaic lab (PV-Lab) for solcelle silisium:
  • Elektrisk motstand
  • Levetid
  • PN-overgang
  • Bestemmelse av Oi og Cs vha FTIR
  • LBIC

Tilgjengelig utstyr:

• FG-SEM med EDX. Zeiss Merlin Compact med EDX detektor
• Optiske mikroskoper
• IR-mikroskop
• Makrofoto
• Prøvepreparering (kutting, sliping, polering, innstøping etc.)

Prosjekteksempel: